SIR和局部萃取的結(jié)果是通過或失敗。判定標(biāo)準(zhǔn)分別基于電路電阻率和萃取液電阻率。為了便于參考，附錄中包含了詳細(xì)的結(jié)果。如表1所示，通過被編碼為綠色，失敗被編碼為橙色。結(jié)果顯示了一個(gè)清晰的定義：即所有未清洗的測試模塊都沒有通過測試，所有清洗過的測試模塊都通過了測試。事實(shí)上，助焊劑殘?jiān)泻写罅康碾x子，局部萃取試驗(yàn)很快就超過了電阻率極限。在未清洗板上有幾種離子濃度很高?？偟膩碚f，這是一個(gè)非常極端的比較，因?yàn)楦锌赡苁遣糠智逑炊皇峭耆辞逑?。這加強(qiáng)了必須清洗使用了水溶性焊錫膏組件的重要性。測試電壓可以擴(kuò)展使用外接電壓，最大電壓可高達(dá)2000V。江蘇pcb絕緣電阻測試供應(yīng)商

電阻測試

CAF形成過程：1、常規(guī)FR4 P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時(shí)親膠性不良，兩者之間容易出現(xiàn)間隙；3、鉆孔等機(jī)械加工過程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對(duì)樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢不同，則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因：1、原料問題1) 樹脂身純度不良，如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳 ；2) 玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳，親膠性不良 ；3) 樹脂之硬化劑不良，容易吸水 ；4) 膠片含浸中行進(jìn)速度太快；常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽 造成氣泡殘存。海南離子遷移絕緣電阻測試有哪些通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。

有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1]，因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響，很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。電化學(xué)遷移被認(rèn)為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式，會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。1.1機(jī)械開封機(jī)械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示，可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附，異物呈樹枝狀結(jié)晶，由一端電極往另一端電極方向生長，并連接了電阻兩端電極；一端電表表面發(fā)生溶解，且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。

設(shè)計(jì)特性描述IPCJ-STD-001是一份規(guī)范焊接電子組件制造實(shí)踐和要求的文件。一般來說，根據(jù)J-STD-004的分類標(biāo)準(zhǔn)，這些助焊劑適用于電子組裝。在使用幾種不同的涂層和助焊劑時(shí)，兼容性也需要測試。兼容性測試的方法因應(yīng)用而異，但需要使用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法測試。理想情況下，電化學(xué)可靠性/兼容性應(yīng)該用新型組裝的電路板和元器件進(jìn)行測試。由爐溫定義的加熱循環(huán)過程對(duì)助焊劑的表現(xiàn)也很關(guān)鍵。清洗工藝也應(yīng)該使用類似于SIR的方法在IPC-B-52的板子上驗(yàn)證。一旦優(yōu)化了組裝，就應(yīng)該進(jìn)行深入的測試去確定組裝的設(shè)計(jì)和工藝。在J-STD-001中，就以IPC-9202和9203來舉例。在組裝區(qū)域，溫度曲線經(jīng)歷了比較大的熱量，因此比較低和短的峰值被復(fù)制應(yīng)用于任何測試樣板制作，以確保測試結(jié)果的一致性和可靠性的預(yù)期。每個(gè)板卡一個(gè)測試電源，可適應(yīng)多批量測試條件。

過程控制方法的討論J-STD-001文件定義了焊接電氣和電子組件的要求。第8節(jié)討論了清洗過程的要求和電化學(xué)可靠性相關(guān)的測試。本節(jié)參考了幾種測試方法，這些方法可用于評(píng)估印刷電路板表面什么樣的離子含量可以降低電阻值。它還包括用戶和供應(yīng)商同意的方法選項(xiàng)。TM-650方法提供了三種過程控制方法，即利用溶劑萃取物的電阻率檢測和測量可電離表面污染物，通常稱為ROSE測試。溶劑萃取物的電阻率（ROSE）這種測試方法已經(jīng)成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)幾十年了。然而，這一方法近年來在一些發(fā)表的論文中，受到了越來越多的研究。加強(qiáng)監(jiān)測的明顯原因是：在某些情況下，這種測試方法已被確定與SIR的結(jié)果相。除了正在進(jìn)行的討論內(nèi)容之外，這種測試對(duì)于過程控制來說可能是不切實(shí)際和費(fèi)力的。這增加了尋找新方法的動(dòng)力，這些新方法比整板萃取更快，操作規(guī)模更小。維柯多通道導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測試系統(tǒng) GWLR256與冷熱沖擊試驗(yàn)箱配合使用，用于產(chǎn)品導(dǎo)通（低 阻）性能驗(yàn)證。陜西供應(yīng)電阻測試售后服務(wù)

廣州維柯GWHR-256 產(chǎn)品優(yōu)勢：結(jié)構(gòu)、配置靈活：板卡設(shè)計(jì)，可選擇 16 路N(1≥N≤16)。江蘇pcb絕緣電阻測試供應(yīng)商

助焊劑等級(jí)分類所有的測試完成后，編輯L、M和H的測試數(shù)據(jù)，所有測試數(shù)據(jù)的比較高值決定助焊劑的等級(jí)。例如，一款助焊劑的活性等級(jí)要定為L，就需要五項(xiàng)測試中每個(gè)結(jié)果都是L_才可以。每個(gè)測試從不同的角度來量化電遷移的傾向性。ECM和SIR測試接近組裝產(chǎn)品在使用壽命時(shí)間里容易產(chǎn)生電化學(xué)遷移的情況。它們都是在更高的溫濕度下進(jìn)行加速測試，并且發(fā)展成為表明可靠性的一種標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)前SIR測試方法擅長用標(biāo)準(zhǔn)化的方式測試電化學(xué)遷移的傾向性。這種測試更接近真實(shí)失效機(jī)理。由于監(jiān)測頻率的關(guān)系，這種測試能夠捕捉到絕緣電阻的波動(dòng)。這種波動(dòng)可能表示枝晶形成然后又溶解了。這就可以不依賴于災(zāi)難性故障來指示潛在的問題。江蘇pcb絕緣電阻測試供應(yīng)商

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